- 本研究の目的は、コイル塞栓術後のマイクロカテーテル内部ライニングの変化が虚血性合併症に与える影響を調査することである。方法として、5つのSL-10、2つのPhenom 17、1つのEchelon 10マイクロカテーテルをSEM（走査型電子顕微鏡）で観察し、未使用のカテーテルを対照として使用した。
脳内動脈瘤 マイクロカテーテル内層の損傷をコイル塞栓術後に走査型電子顕微鏡で評価する研究
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