拡散モデルアプローチによる逐次切片電子顕微鏡画像の復元強化による神経微細構造解析の向上

IEEE transactions on medical imaging

7月10日配信

AIによる要点抽出

Serial section electron microscopy (ssEM)は、神経結合や脳の微細構造を調査する上で重要な技術であるが、サンプル調製や画像取得における不完全性が画像の劣化を引き起こす。

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